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天瑞EDX-T X射線熒光鍍層測(cè)厚儀天瑞EDX-T X射線熒光鍍層測(cè)厚儀該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動(dòng)切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測(cè)試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動(dòng)化的X/Y/Z軸的三維移動(dòng),實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦精準(zhǔn)分析。能更好地滿(mǎn)足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。

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2024-11-27

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天瑞EDX4500H能量色散X熒光光譜儀天瑞EDX4500H能量色散X熒光光譜儀該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等關(guān)注的元素進(jìn)行準(zhǔn)確分析，在冶煉過(guò)程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。

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天瑞EDX3600能量色散X熒光光譜儀天瑞EDX3600能量色散X熒光光譜儀可準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測(cè)試結(jié)果符合國(guó)標(biāo)GB-1887《首飾貴金屬純度的規(guī)定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無(wú)損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法》的要求。

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天瑞EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測(cè)儀天瑞EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測(cè)儀在測(cè)量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨(dú)到。采用25mm2大面積探測(cè)器，可準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量，測(cè)試結(jié)果符合國(guó)標(biāo)GB/T 18043-2000要求。

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天瑞EDX600PLUS能量色散X熒光光譜儀天瑞EDX600PLUS能量色散X熒光光譜儀是一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。測(cè)量方便快捷，無(wú)需液氮，無(wú)需樣品前處理。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè),幫助企業(yè)準(zhǔn)確核算成本及質(zhì)量管控。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電器、航空航天、磁性材料、汽車(chē)行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。

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天瑞EDX Thick 800 X熒光鍍層測(cè)厚儀天瑞EDX Thick 800 X熒光鍍層測(cè)厚儀是一款全新上照式多功能自動(dòng)微區(qū)X熒光膜厚測(cè)試儀,既滿(mǎn)足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測(cè)功能,又可滿(mǎn)足有害元素檢測(cè)及輕元素成分分析;搭載自動(dòng)化的X/Y/Z軸的三維系統(tǒng)、雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng),可多點(diǎn)位編程測(cè)試,被廣泛應(yīng)用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量。

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天瑞EDX 2000A能量色散X熒光光譜儀天瑞EDX 2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦精準(zhǔn)分析，滿(mǎn)足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。通過(guò)自動(dòng)化的X軸Y軸Z軸的三維移動(dòng)，雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng)。

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天瑞EDX 600能量色散X熒光光譜儀天瑞EDX 600能量色散X熒光光譜儀是集天瑞儀器多年貴?屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，功能?全的測(cè)試軟件、友好的操作界?來(lái)滿(mǎn)?貴?屬成分檢測(cè)的需要，?性化的設(shè)計(jì)，使測(cè)試?作更加輕松完成。

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